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如何選擇三維形貌測(cè)量?jī)x?

更新時(shí)間:2022-03-09      點(diǎn)擊次數(shù):1328

三維形貌測(cè)量?jī)x選型很重要。那么如何選型了?

一,確定測(cè)量工件是什么?什么材質(zhì)的,什么形狀的,尺寸多大?

二,確定需要測(cè)量哪些參數(shù),測(cè)量精度多少?

三,是否有特殊要求。

通過(guò)以上3點(diǎn)基本可以確定三維形貌測(cè)量?jī)x的型號(hào)和配置了。

SuperView W1三維形貌測(cè)量?jī)x是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。

SuperView W1三維形貌測(cè)量?jī)x

SuperView W1三維形貌測(cè)量?jī)x可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。

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