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SuperViewW光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀利用光學(xué)干涉原理，具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

SuperViewW非接觸光學(xué)3D表面粗糙度輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

中圖儀器SuperViewW中圖精密光學(xué)粗糙度輪廓一體機以白光干涉技術(shù)為原理，能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SuperViewW中圖國產(chǎn)3d輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，3D非接觸式測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

?SuperViewW中圖儀器白光干涉儀光學(xué)輪廓儀品牌基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

中圖儀器SuperViewW3D顯微形貌與粗糙度光學(xué)輪廓儀通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋，使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮孑喞獌x。設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能。

SuperViewW非接觸式表面粗糙度光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SuperViewW光學(xué)三維表面輪廓形貌儀能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。