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    WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

    WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?；诎坠飧缮鎴D的光譜分析儀，通過數值七點相移算法計算，達到亞納米分辨率測量表面的局部高度，實現膜厚測量功能。

    時間：2024-05-13型號：訪問量：825
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