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  • NS200晶圓探針式輪廓儀臺階儀
    NS200晶圓探針式輪廓儀臺階儀

    Nano Step系列晶圓探針式輪廓儀臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號采集、超精細(xì)運(yùn)動控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。

    時(shí)間:2024-07-22型號:NS200訪問量:486
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  • SuperViewW1納米白光干涉儀微尺寸檢測儀
    SuperViewW1納米白光干涉儀微尺寸檢測儀

    SuperViewW納米白光干涉儀微尺寸檢測儀基于白光干涉原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,典型結(jié)果包括表面形貌和幾何特征。

    時(shí)間:2024-07-22型號:SuperViewW1訪問量:527
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  • VT6100材料檢測3D成像共聚焦顯微鏡
    VT6100材料檢測3D成像共聚焦顯微鏡

    VT6000材料檢測3D成像共聚焦顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量,可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-07-18型號:VT6100訪問量:603
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  • SuperViewW1白光干涉輪廓形貌粗糙度測量儀
    SuperViewW1白光干涉輪廓形貌粗糙度測量儀

    SuperViewW白光干涉輪廓形貌粗糙度測量儀復(fù)合型EPSI重建算法,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動拼接模塊下,只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn),即可自動掃描,重建其超光滑的表面區(qū)域,不見一絲重疊縫隙。

    時(shí)間:2024-07-16型號:SuperViewW1訪問量:560
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  • NS200柔性電子器件薄膜測量臺階儀
    NS200柔性電子器件薄膜測量臺階儀

    中圖儀器NS系列柔性電子器件薄膜測量臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

    時(shí)間:2024-07-17型號:NS200訪問量:562
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  • VT6100共聚焦三維光學(xué)輪廓顯微鏡
    VT6100共聚焦三維光學(xué)輪廓顯微鏡

    VT6000共聚焦三維光學(xué)輪廓顯微鏡具有直觀測量的特點(diǎn),能夠有效提高工作效率,更加快捷準(zhǔn)確地完成日常任務(wù)。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的操作。

    時(shí)間:2024-07-17型號:VT6100訪問量:601
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  • NS200微觀二維形貌輪廓臺階儀
    NS200微觀二維形貌輪廓臺階儀

    微觀二維形貌輪廓臺階儀工作時(shí),觸針沿被測表面輕輕滑過,由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)還沿峰谷作上下運(yùn)動。觸針的運(yùn)動情況就反映了表面輪廓的情況。

    時(shí)間:2024-07-23型號:NS200訪問量:365
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  • SuperViewW1國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀
    SuperViewW1國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀

    SuperViewW國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀可應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

    時(shí)間:2024-07-23型號:SuperViewW1訪問量:642
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