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  • SuperViewW1白光干涉儀三維形貌儀
    SuperViewW1白光干涉儀三維形貌儀

    SuperViewW1白光干涉儀三維形貌儀具備的環(huán)境噪聲檢測模塊能夠定量評估出外界環(huán)境對儀器掃描軸的震動干擾,在設(shè)備調(diào)試、日常監(jiān)測、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數(shù)據(jù)作為支撐。

    時間:2024-05-13型號:SuperViewW1訪問量:724
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  • SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀chotest
    SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀chotest

    SuperViweW1白光干涉三維輪廓儀chotest采用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn)的擴(kuò)展型相移算法EPSI,單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型,其3D重建算法,自動濾除樣品表面噪點(diǎn),在硬件系統(tǒng)的配合測量精度可達(dá)亞納米級別,讓3D測量變得簡單。

    時間:2024-05-13型號:SuperViewW1訪問量:792
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  • SuperViewW1白光干涉表面形貌儀
    SuperViewW1白光干涉表面形貌儀

    SuperViewW1白光干涉表面形貌儀用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評價標(biāo)準(zhǔn)。

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  • SuperViewW1國產(chǎn)三維白光干涉儀
    SuperViewW1國產(chǎn)三維白光干涉儀

    SuperViewW1國產(chǎn)三維白光干涉儀以白光干涉技術(shù)原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對各種精密器件表面進(jìn)行納米級測量,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

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  • SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉顯微鏡
    SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉顯微鏡

    SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。

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  • SuperViewW1白光干涉儀檢測儀
    SuperViewW1白光干涉儀檢測儀

    SuperViewW1白光干涉儀檢測儀提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等;以及自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能。是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。

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  • SuperViewW13d白光干涉儀
    SuperViewW13d白光干涉儀

    3d白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

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  • SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀
    SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀

    CHOTEST中圖儀器SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀集成X、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。測量范圍可從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌,可以快速獲取被測工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測,可用于成品質(zhì)量的管理,確保良品合格率。

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