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  • SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀器
    SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀器

    SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀器由照明光源系統(tǒng),光學(xué)成像系統(tǒng),垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構(gòu)成。是目前三維形貌測(cè)量領(lǐng)域高精度的檢測(cè)儀器之一。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1281
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  • SuperViewW1三維白光干涉儀
    SuperViewW1三維白光干涉儀

    SuperViewW1三維白光干涉儀分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1285
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  • 中圖白光干涉儀設(shè)備
    中圖白光干涉儀設(shè)備

    中圖白光干涉儀設(shè)備具有的測(cè)量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。它以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),通過(guò)一個(gè)按鍵開(kāi)關(guān),可以選擇三維輪廓儀使用探針掃描模式還是樣品臺(tái)掃描模式。廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等等領(lǐng)域。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):訪問(wèn)量:1619
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  • 白光干涉三維形貌儀
    白光干涉三維形貌儀

    中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維形貌儀是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器??梢詼y(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),主要是用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓,此外具有測(cè)量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。

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  • SuperViewW3大尺寸白光干涉三維形貌儀
    SuperViewW3大尺寸白光干涉三維形貌儀

    SuperViewW3大尺寸白光干涉三維形貌儀具備各種類型樣品表面微觀形貌的3D輪廓重建與測(cè)量功能,其中表面粗糙度和微觀輪廓的檢測(cè)功能,粗糙度范圍涵蓋0.1nm到數(shù)十微米的級(jí)別。是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):訪問(wèn)量:1681
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  • 立式非接觸白光干涉儀
    立式非接觸白光干涉儀

    SuperViewW1立式非接觸白光干涉儀雙通道氣浮隔振系統(tǒng)設(shè)計(jì),既可以接入客戶現(xiàn)場(chǎng)的穩(wěn)定氣源也可以采用便攜加壓裝置直接加壓充氣,在無(wú)外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作,可以有效隔絕地面?zhèn)鲗?dǎo)的振動(dòng),同時(shí)內(nèi)部隔振系統(tǒng)能夠有效隔絕聲波振動(dòng),確保儀器在車間也能正常工作。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):訪問(wèn)量:1513
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  • 微米級(jí)白光干涉儀
    微米級(jí)白光干涉儀

    SuperViewW1微米級(jí)白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):訪問(wèn)量:1380
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  • 國(guó)內(nèi)白光干涉儀
    國(guó)內(nèi)白光干涉儀

    中圖儀器國(guó)內(nèi)白光干涉儀的重建算法自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn),在硬件系統(tǒng)的配合下,分辨率可達(dá)0.1nm。測(cè)件尺寸可以測(cè)到12mm,也可以測(cè)到更小的尺寸。

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